半导体测试用热流仪

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产品详情

1. 产品名称

1.1名称

1.2型号

快速冷热冲击热流仪

G-2000-10s

2. 适用说明

2.1适用范围

本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

3. 设备概述

3.1外形尺寸

以及重量

尺寸:W(宽)610mm*D(深)725mm*H(高)1080mm

重量: 232kg(左右)

3.2 工作原理

1,试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

2,可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快;

3.3 工作模式

A)种检测模式 气流模式 样品模式

B) 高温-常温-低温 / 高温-低温 / 高温-常温 / 低温-常温 / 自定义编程

4. 性能

4.1温度范围

-60℃至+230℃

4.2控制精度

±0.5

4.3冲击气流量(输出)

4~18SCFM(1.9~8.5L/S)

4.4冲击速率

-40 to 85℃≤8s 或 85 to -40 ℃≤10s(线性可调)

4.5满足试验标准

1.GB/T 2423.1-2008     试验A:低温试验方法;

2.GB/T 2423.2-2008     试验B:高温试验方法;

3.GB/T2423.22-2012     试验N: 温度变化试验方法

4. GJB/150.3-2009       高温试验

5. GJB/150.4-2009      低温试验         

6. GJB/150.5-2009      温度冲击试验

5.冷冻系统构成

5.1.压缩机

法国泰康

5.2制冷剂

非氟环保HFC混合冷媒

5.3冷凝器

风冷高效强制对流翅片式

5.4蒸发器

高效ST板式热交换器(车联热工)

5.5油分离器

艾默生

5.6 膨胀阀

丹佛斯热力膨胀阀

5.7 电磁阀

日本鹭宫及丹佛斯

5.8除湿机

英国NaNo订制

6. 控制系统

6.1

7寸可视化人机界面

西门子(SIEMENS)

6.2

支持LANRS-485,可实现电脑远程操控

6.3

二种检测模式:气流模式样品模式(DUT Sensor)

6.4

运行模式

1)手操

   手动切换。

   自动循环。

2)程序

   手动切换。

   自动循环。

7. 使用条件


1.环境温度: +15℃to +35℃(标准+23℃)

2.相对湿度: ≤60%RH;(标准45%RH)

3.大气压力:80kPa~106kPa

4.电源电压单相:

4.1.220V AC(±10%)接地电阻≤4Ω;空气开关32A

4.2.标称最大功率:约4.5KW

4.3.最大工作电流:约20A
5.气源要求(要求用户提供清洁干燥气源)

5.1 压缩空气温度+20度~+25度

5.2 气源压力:0.6 Mpa(90PSI)-- 0.78Mpa(110PSI)

5.3 进气流量:7.1~14.2l/s(可调节)

5.4 进去露点:≤10℃@0.6Mba(90PSI)

5.5 含油量:≤0.01PPM

5.6 耗气量:≤0.85m³/Min